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UMC - Univesidade de Mogi das Cruzes apresenta nesta terça (5) microscópio de 200 mil dólares

Publicado em 05 dezembro 2006

O Ciib-Centro Interdisciplinar de Investigação Bioquímica da UMC - Universidade de Mogi das Cruzes, apresenta nesta terça-feira, dia 5, às 10 horas, um moderno equipamento de microscopia de força atômica obtido pelo programa científico multi-usuário da Fapesp- Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo, sob coordenação do professor Nelson Duran, do Núcleo de Ciências Ambientais.
Além dele também coordenaram o programa os professores Flávio Aparecido Rodrigues e Iseli Lourenço Nantes, do Ciib, que tiveram como colaboradores os professores Antonio Carlos Fávero Caíres, Jorge Luiz Pesquero, Ronaldo de Carvalho Araújo, Sergio Brochzstain, Jean Jacques Bonvent, Jair Ribeiro Chagas, Renata Guimarães Moreira, Ana Carmona e Denise Petri, as duas últimas da Universidade de São Paulo.
O sofisticado equipamento custou 200 mil dólares e é da marca Shimadzu, modelo SPM -9600, que varre a superfície da amostra utilizando um micro-sensor (tip) que permite uma observação com grande ampliação em forma tridimensional.
"O microscópio de força atômica (AFM) é uma importante ferramenta de análise para os modernos pesquisadores. Este microscópio permite obter uma ampliação de um objeto em até 10 milhões de vezes. Para se ter uma idéia dessa ampliação, seria como ampliar uma caneta comum até que esta atingisse o diâmetro da Terra", explica o professor Flávio Rodrigues.
Segundo ele, o princípio de funcionamento do microscópio é relativamente simples: "Uma ponta muito estreita varre a superfície determinando, literalmente, a rugosidade com resolução até dez milhões de vezes. A aproximação da ponta com a superfície é tão precisa que os elétrons da mesma interagem com as camadas eletrônicas da superfície da amostra, causando uma repulsão elétrica que é utilizada para aproximar ou distanciar a ponta e a amostra. Esse é um processo de varredura no qual a ponta percorre a amostra em várias direções até a obtenção da imagem sub-microscópica da superfície".
A detecção da posição da ponta é feita por um feixe de laser e neste modo de funcionamento, o mais usual, obtém-se uma imagem topográfica da superfície com resolução quase atômica.
"Além deste modo topográfico, há várias outras formas para se obter informações dos materiais utilizando-se um AFM. Por exemplo, utilizando pontas e acessórios especiais, pode-se trabalhar conseguindo informações sobre o campo magnético, o campo elétrico, a dureza ou a adesividade da superfície de uma amostra", explica o professor.
O microscópio de força atômica pode ser utilizado em várias aplicações como em materiais cerâmicos (catalisadores, silicatos, louça); na indústria de semicondutores; em materiais têxteis (papel, tecidos, fibras em geral); na indústria farmacêutica (análise de pele, fios de cabelo); em filmes finos (polímeros de modo geral, membranas, superfícies óticas); em biotecnologia (membranas biológicas, DNA, proteínas).